INFICON XTC/3膜厚仪-产品详情
INFICON XTC/3膜厚仪

XTC/3 薄膜沉积控制器

技术先进,经济实惠,可对单层或多层薄膜进行速率控制

立即了解用于单层和多层过程的薄膜沉积控制器的详细信息。XTC/3 带有专利 ModeLock,提供跳模预防功能,确保获得始终如一的质量。使用 XTC/3 薄膜沉积控制器,您可以高度精确地控制沉积速率和厚度,获得几乎适用于所有层的容量,而且控制器安装简便,具有极高可靠性,可确保高生产力。

INFICON 是薄膜沉积控制领域的全球领导者,现在提供的这款仪器具有极低的拥有成本,可为客户带来空前的价值。

无论您需要的是生产、研发还是开发方面的控制,您都将发现 INFICON XTC/3 能够完美满足您的需求。

功能

  • 提供有单层和多层型号
  • 专利 ModeLock 技术可避免跳模引起的薄膜厚度误差
  • 支持 Crystal 12®、Crystal Six® 和双传感器自动晶体转换,从而最大化生产力
  • XTC/3M 多层型号最多支持 99 个过程、999 层薄膜、32 种薄膜材料、2 个传感器和两种源
  • XTC/3S 单层型号最多支持 9 种薄膜、2 个传感器和两种源
  • 易于阅读的 TFT LCD 图形显示器
  • 可以为薄膜和过程分配唯一的描述性名称,以便于检索
  • 提供以太网连接
  • 独立式(不需要计算机)或便于 PC 操作的可选 Windows® 软件
  • 插拔式替换 INFICON XTC/2 控制器(受限于 XTC/2 功能和命令集)

典型应用

  • 高端光学镀膜

新闻

XTC/3 前面板已根据 INFICON
公司的新标准进行重新设计。

规格

类型 XTC3/S XTC3/M
频率分辨率 ±0.028 Hz @ 6 MHz
±0.028 Hz @ 6 MHz
测量频率范围 6.0 to 5.0 MHz (fixed) 6.0 to 5.0 MHz (fixed)
测量周期 0.25 seconds 0.25 seconds
厚度和速率分辨率/测量 (1) ±0.034 Å ±0.034 Å
测量技术 ModeLock ModeLock
过程数量 1 99
层数 1 999
材料计划(或薄膜)数量 9 32
传感器输入数量 2 2
CrystalSix / Crystal 12 传感器支持 Yes Yes
支持 XTAL 2 开关 Yes Yes
来源输出数量 2 2
计算机通信 RS232 standard, Ethernet TCP/IP optional RS232 standard, Ethernet TCP/IP optional
最大 RS232 波特率 115.2 KBaud 115.2 KBaud
自动晶体转换 Yes Yes
继电器数量 12, Not Event Assignable 12, Event Assignable
可编程继电器功能数量 1 1
每个继电器的功能 1 1
继电器额定电压 30VDC or 30VAC RMS or 42V peak at 2.5 Amps 30VDC or 30VAC RMS or 42V peak at 2.5 Amps
输入数量 8 TTL, 24VDC Max 8 TTL, 24VDC Max
可编程输入功能数量 1, Not Event Assignable 1, Event Assignable
记录器输出数量 1 1
手动电源 / 手持控制器 Yes Yes
排气管风扇 No Exhaust Fan No Exhaust Fan
测试模式 Yes Yes
闸门延迟 Yes Yes
二次成型模具 Yes Yes
外壳尺寸 half rack, 2U high half rack, 2U high
速率和厚度显示分辨率 0.1 A/s for 0.0 to 99.9 A/s, 1 A/s for 100 to 999 A/s, display thickness resolution = 1 A
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